屏蔽罩的功能決定著電子產(chǎn)品的性能，如果平整度不足則容易導(dǎo)致電子產(chǎn)品的性能減弱或者導(dǎo)致電子元件受損，所以屏蔽罩需要高精度測量來確保自身的品質(zhì)。屏蔽罩能幫助電子元件隔絕外界電磁場的干擾之外，還能減弱元器件自身的電磁輻射擴散，也承擔(dān)了一部分散熱的功能，如果屏蔽蓋的平整度沒有嚴(yán)格控制，很容易就會出現(xiàn)擠壓元器件或者抗干擾以及散熱功能的缺失。屏蔽罩體積較小厚度較薄，稍加應(yīng)力就有可能會造成其彎曲，使得屏蔽罩的平整度測量過程十分困難，使用常規(guī)的工具無法在不傷害屏蔽罩表面的情況下進行平整度的測量，異形的屏蔽罩也無法使用，所以測量屏蔽罩較為理想的方法是使用激光平整度測量儀來完成。

海科思激光平整度測量儀采用高精度激光測頭對屏蔽罩表面進行掃描取點，以獲取屏蔽罩表面的輪廓數(shù)據(jù)，再以此做平整度、平面度及翹曲度計算，高運算快速測量能力100mm以內(nèi)產(chǎn)品可達0.5秒測量一片，在無損高精度測量的同時保證率。平面度平整度測量儀除了適用于屏蔽罩平整度測量外，還適用于玻璃行業(yè)、手機外殼及中層板行業(yè)、、鋁板等金屬板行業(yè)、汽車配件行業(yè)、PCB線路板行業(yè)、電子行業(yè)等各類零件的平面度、翹曲度檢測，如需了解關(guān)于該設(shè)備的更多參數(shù)歡迎致電?？扑?/span>全國服務(wù)熱線：400-0528-668